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0.1um薄膜測厚儀
簡要描述:

0.1um薄膜測厚儀:適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-10-31
  • 訪  問  量:678

詳細介紹

品牌SYSTESTER/思克應用領域印刷包裝

0.1um薄膜測厚儀

v> 主要特點  

? 接觸式測量原理

? 德國測厚傳感器

? 工業 TFT 屏,觸摸屏操作

? 零導航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷

? 真彩色液晶顯示試驗數據、結果

? 手動、循環、預約定時多種測量模式

? 測試過程全自動完成

? 本機內置歷史數據查詢功能

? 配置微型打印機,可自動打印單次、統計報告

? 配置標準通信接口

? 可支持 DSM 實驗室數據管理系統,實現數據統一管理(選購)

技術指標  測量范圍:0~2mm(標配) 0~10mm(可選)

分 辨 率:0.1μm  

測量速度:1~25 次/min(可調)

測 量 頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標配)

紙張:200mm2,50±1kPa(可選)  

電 源:AC 220V 50Hz  

外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)  

凈 重:38kg  

執行標準  GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、 ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、 BS 4817

0.1um薄膜測厚儀

產品配置  

標準配置:主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件

選 購 件:紙張測量頭、自動進樣裝置、配套軟件、通信電纜、標準量塊、DSM 實驗室數據管理系統



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