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薄膜紙張高精度測厚檢測儀
簡要描述:

薄膜紙張高精度測厚檢測儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-04
  • 訪  問  量:1625

詳細介紹

品牌SYSTESTER/思克價格區間面議
產地類別國產應用領域印刷包裝

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

主要特點

接觸式測量原理

測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗數據、結果

手動、循環、預約定時多種測量模式

測試過程全自動完成

內嵌值、平均值、標準差數據統計分析功能

本機內置歷史數據查詢功能

配置微型打印機,可自動打印單次、統計報告

配置標準通信接口

可支持DSM實驗室數據管理系統,實現數據統一管理(選購)

技術指標

測量范圍:02mm(標配)010mm(可選)

率:0.1μm

測量速度:1~25/min(可調)

頭:薄膜:50mm217.5±1kPa(標配)

    張:200mm250±1kPa(可選)

    源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

   重:38kg

執行標準

GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

產品配置

主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件

注:產品技術規格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權與解釋權!


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